Sirius Advanced Cybernetics –Machine Vision for Industry

Planaritätsprüfung

Mit der Planaritätsprüfung kann die Ebenheit von Bauteilen kontrolliert und gewährleistet werden. Dies spielt z.B. bei der Produktion von Tachoscheiben oder Solarwafern eine entscheidende Rolle.

Unsere Lösungen zeichnen sich durch hohe Genauigkeit aus - beispielsweise ermöglicht unser SAC Pulsar Verfahren Lösungen, bei denen wir für Objekte mit einer Grundfläche von ca. 100x100 mm Messauflösungen im Bereich weniger Mikrometer umsetzen. Und das bei einer Bilderfassungszeit von 300-500 Millisekunden - ohne jegliche bewegte Achse.